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美國磁通Magnaflux滲透劑SKL-SP2應(yīng)用領(lǐng)域

更新時(shí)間:2025-06-01   點(diǎn)擊次數(shù):103次

美國磁通Magnaflux滲透劑SKL-SP2應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用范圍

缺陷位置: 表面開口缺陷

適用于:

應(yīng)用范圍廣

鑄件

鍛件

焊縫

壓力容器

管材

非多孔性陶瓷

一般金屬件

泄漏檢測(cè)

發(fā)電廠

建筑

缺陷類型:

裂紋

泄露

使用建議

NDT 方法: 滲透檢測(cè), 著色

類型: 類型 2

去除方法: B, C或D

工作溫度范圍: 4°C - 52°C /40°F - 125°F

SKL-SP2是一種溶劑去除型的紅色滲透劑,具有顯著的滲透特性,在定位表面開口缺陷和裂紋的檢測(cè)中享有相當(dāng)高的可靠性。在工業(yè)領(lǐng)域中,對(duì)于著色滲透檢測(cè)方法能夠滿足要求的表面開口缺陷檢測(cè),都可以廣泛地使用SKL-SP2滲透劑。與此同時(shí),SKL-SP2滲透劑還可以應(yīng)用于非多孔性陶瓷或其他類似材料的檢測(cè)。

SKL-SP2已被列入QPL AMS 2644合格產(chǎn)品目錄。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

顯著的滲透特性

滲透劑為鮮艷的紅色,與背景顏色形成鮮明對(duì)比。

明顯的缺陷顯示

的可靠性

符合規(guī)范

AECL

AMS 2644

ASME

ASTM E1417

ASTM E165

ISO 3452

MIL-STD-2132

MIL-STD-271

NAVSEA T9074-AS-GIB-010/271

NAVSEA 250-1500-1

QPL SAE AMS 2644

顯像劑 磁通.png

測(cè)厚儀雙晶探頭(1).png